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Informations sur le produit "OTU-KS-NV-007-004-G2"
- Composants pour l’Opens-Test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, courts-circuits et défauts de soudure
- Convient à tous les systèmes de test Keysight 307x équipés de la version logicielle 9.2 ou supérieure
- Reproductibilité, couverture de test et détection d’erreurs nettement améliorées comparé à la technologie VTEP.
| Conforme RoHS: | oui |
|---|---|
| Course: | 4 mm |
| Dimensions hors tout (LxPxH): | 7 x 4 x 48,7 mm |
| Groupe de produits: | Opens Tests |
| Hauteur: | 48,7 mm |
| Interfaces de test sous vide (VA): | VA 2070S/L, VA 3070S/L |
| Kits amovibles WS: | WS Keysight |
| Largeur: | 4 mm |
| Longueur: | 7 mm |
| Série: | OTU |
| Température max.: | 60 °C |
| Température min.: | 10 °C |
| Type: | Keysight Vectorless Test |
| Type d’accessoire: | Accessoires d’équipement |
| Version: | nanoVTEP Gen2 SP taille B/C |
| État à la livraison: | Avec nanoVTEP Gen2 |
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Détails du produit
- Composants pour l’Opens-Test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, courts-circuits et défauts de soudure
- Convient à tous les systèmes de test Keysight 307x équipés de la version logicielle 9.2 ou supérieure
- Reproductibilité, couverture de test et détection d’erreurs nettement améliorées comparé à la technologie VTEP.
Autres produits de cette série :
Données techniques
Données générales
- Groupe de produits: Opens Tests
- Série: OTU
- Type: Keysight Vectorless Test
- Version: nanoVTEP Gen2 SP taille B/C
- Type d’accessoire: Accessoires d’équipement
- État à la livraison: Avec nanoVTEP Gen2
- Largeur: 4 mm
- Hauteur: 48,7 mm
- Température min.: 10 °C
- Température max.: 60 °C
- Conforme RoHS: oui
Adapté aux
- Interfaces de test sous vide (VA): VA 3070S/L, VA 2070S/L
- Kits amovibles WS: WS Keysight
Caractéristiques techniques
- Course: 4 mm
- Longueur: 7 mm
- Dimensions hors tout (LxPxH): 7 x 4 x 48,7 mm
Outils et accessoires adaptés
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